Пълен Дизайн, извършваща издаване

[philewar]

Здравейте Gurus,

Вие знаете, че Cell-дизайн на базата на наема за сканиране метод за извършване на веригата DFT.Когато чип отива масово производство, изпитване вектори са фуражите в чип, разхождайки се из сканиране верига, и да ти кажа дали чип работи или не.

Въпросът е за пълна проектантска оформление.Как да кажете на компонент, например доминото схема, буре-работник, работят добре чрез simillar начин да сканирате верига плюс ATPG?Или какво е начинът, по промишленост, която използва сега?

Thx предварително.Най-добър,

philewar

 

[gerryhsu]

Ментор DFTAdvisor, FastScan, ATPG и същи колега Synopsys инструментите си свършат работата.Консулт продавач си на избор документ за повече информация.Това е твърде дълъг, за да спомена тук

 

[philewar]

Благодаря ви за вход.

Но моят въпрос е как да направя, когато DFT правиш пълен обичай, т.е. ти си съставя план, като динамични схеми барел-работник.Знаеш ли, най-бързо алуминий са пълна обичай.

Най-добър,

philewar

 

[gerryhsu]

philewar написа:

Благодаря ви за вход.Но моят въпрос е как да направя, когато DFT правиш пълен обичай, т.е. ти си съставя план, като динамични схеми барел-работник.
Знаеш ли, най-бързо алуминий са пълна обичай.Най-добър,philewar

 

[eternal_nan]

Доколкото знам, пълен потребителски макроси могат да бъдат тествани в едно производство
от следните три начина:
1.Вграден В Self Test (Bist)
Вие имате принос за макро, че когато appled причини на макро
За да изпълните самодиагностика и преминават доклад / Fail (1 / 0) на изход ПИН.
2.Сканиране, вградена в макро
Обикновено трябва да се определят отделни SI Гост / SO чип пина само за
макрос, за да се избегнат проблеми stiching времето на макро's сканиране
верига извън сканиране с вериги.Това обаче не е абсолютно neccess -
-Ary като можете да използвате за заключване-горе ключалки към интерфейса на макро's сканиране
верига.
3.Функционален тест.На този етап аз мисля, функционален тест е най-често
използвания метод, основно пускате симулация, че excercises на макро
и обхващането на всички чип вход / изход стойности да се движи и сравнение на
изпитател.

Надявам се, че помага.